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  • HTZKZ-V真空度測(cè)試儀
    HTZKZ-V真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • ZKY-2000真空度測(cè)試儀
    ZKY-2000真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • ZY-385真空度測(cè)試儀
    ZY-385真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • DZK-H真空度測(cè)試儀
    DZK-H真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • BY3650真空度測(cè)試儀
    BY3650真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • YHZKD真空度測(cè)試儀
    YHZKD真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • ED0304-1型真空度測(cè)試儀
    ED0304-1型真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • HT2668真空度測(cè)試儀
    HT2668真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • SSDKG-8155真空度測(cè)試儀
    SSDKG-8155真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • BS-2000真空度測(cè)試儀
    BS-2000真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • ZKD-III真空度測(cè)試儀
    ZKD-III真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • SX-3000型真空度測(cè)試儀
    SX-3000型真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • KF-6100真空度測(cè)試儀
    KF-6100真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • XJZK-III真空度測(cè)試儀
    XJZK-III真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • DZK-H 真空度測(cè)試儀
    DZK-H 真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • DVM-V真空度測(cè)試儀
    DVM-V真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • GS3120B真空度測(cè)試儀
    GS3120B真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • L6821真空度測(cè)試儀
    L6821真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • XJZKD真空度測(cè)試儀
    XJZKD真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • BYZKZ-IV真空度測(cè)試儀
    BYZKZ-IV真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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